威爾粗糙度儀主要用于檢測(cè)材料表面微觀輪廓特征,核心功能包括接觸/非接觸式檢測(cè)、多參數(shù)輸出及自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理。
威爾粗糙度儀可測(cè)量多個(gè)關(guān)鍵參數(shù),包括:
1?、Ra(算術(shù)平均粗糙度)?:非常常用的參數(shù),表示輪廓偏差的算術(shù)平均值,適用于大多數(shù)表面評(píng)估。
?2、Rz(大高度粗糙度)?:測(cè)量輪廓高峰與低谷的垂直距離,反映表面極端差異。
?3、Rq(均方根粗糙度)?:對(duì)輪廓偏差的平方值取平均,更敏感于較大偏差。